Compact WIL白光干涉微光形貌粗糙度儀-德瑞華測量技術(shù)（蘇州）有限公司

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瑞士丹青進口白光干涉微觀形貌粗糙度儀瑞士丹青Compact WLI白光干涉微觀形貌及粗糙度儀是用于記錄3D形貌光學測量技術(shù)，其分辨率高達納米級。測量點平行采集和處理，大面積的高度信息可以在很短時間內(nèi)采集。研究和質(zhì)量管理過程中的典型應(yīng)用有：物體表面的不同粗糙度特性（晶圓結(jié)構(gòu)、鏡面、玻璃、金屬等）、確定高度變化以及曲面的精密測量（如微透鏡等）。

更新日期：2024-04-24

型號：Compact WIL

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